シクロヘキサン中へのホール注入時に見られる電流急増現象
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概要
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This paper present some experimental results observed by pulse hole injection with thin film emitter. The transient current decrease exponentially to constant current and step functional increase at 12 μs occurs with single or several burst pulses, during pulse hole injection (20 μs duration). After 20 μs duration, the transient ionic peak current occurs. The breakdown phenomena concern with the burst pulse.
- 社団法人 電気学会の論文
- 2005-03-01
著者
-
大橋 朝夫
愛知工業大学
-
大橋 朝夫
愛知工業大学 電気学科
-
土田 縫夫
豊田工業大学
-
小崎 正光
岐阜工業高等専門学校
-
長尾 雅行
豊橋技術科学大学
-
石井 新之助
一関工業高等専門学校電気情報工学科
-
大橋 朝夫
愛知工業大学工学部電気工学科
-
石井 新之助
豊橋技術科学大学電気電子工学系
-
石井 新之助
一関工業高等専門学校
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