SiO_2/Si(001)界面の走査トンネル顕微鏡による解析
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概要
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- 2001-03-20
著者
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岩崎 裕
大阪大学産業科学研究所
-
須藤 孝一
阪大産研
-
岩崎 裕
阪大
-
岩崎 裕
阪大産研
-
須藤 孝一
大阪大学産業科学研究所
-
Iwasaki Hiroshi
Institute Of Scientific And Industrial Research Osaka Univerisity
-
後藤 雅秀
大阪大学産業科学研究所
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