走査型プローブ顕微鏡による有機伝導体薄膜の表面観察
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概要
著者
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河津 璋
東大工
-
重川 秀実
筑波大学物理工学系
-
吉村 雅満
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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吉村 雅満
広島大学工学部
-
重川 秀実
Univ. Tsukuba Tsukuba
-
Shigekawa Hidemi
Institute Of Applied Physics And Crest Japan Science And Technology Corporation (jst) University Of
-
河津 璋
東京大学工学部物理工学科
-
河津 璋
東京大学工学系研究科
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