フォトケミカルエッチング法により作成した シリコン系可視発光層からのエレクトロルミネッセンス測定

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概要

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• 1999-08-01

著者

• 高井 裕司

  東京電機大学工学部

• 高井 裕司

  東京電機大学

• 山本 直克

  東京電機大学

• 住谷 篤

  東京電機大学

• 斉藤 賢志

  東京電機大学

• 高井 裕司

  東京電機大 工

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