依田 芳卓 | 高輝度光科学研究
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概要
関連著者
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依田 芳卓
高輝度光科学研究センター
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依田 芳卓
高輝度光科学研究
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依田 芳卓
Jasri
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依田 芳卓
財団法人高輝度光科学研究センター
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三井 隆也
日本原子力研究所
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三井 隆也
日本原子力研究開発機構
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瀬戸 誠
京大原子炉
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黒葛 真行
京大原子炉
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瀬戸 誠
Research Reactor Institute Kyoto University
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北尾 真司
京大原子炉:jst Crest
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北尾 真司
京大原子炉
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小林 康浩
京大原子炉
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東谷口 聡
京大院理
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増田 亮
日本原子力研究開発機構
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北尾 真司
京都大学
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カザヴィ サイ
物質研
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三井 隆也
Jaea
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小林 康浩
京大原子炉:jst-crest
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増田 亮
日本原子力研究開発機構:crest-jst
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黒葛 真行
大阪大
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高橋 敏男
東京大学物性研究所
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齋藤 真器名
京大院理
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黒葛 真行
京大院理
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瀬戸 誠
京大原子炉:jst Crest
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三木 一司
物材機構
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北尾 真司
京大・原子炉
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小林 康浩
京都大学
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隅谷 和嗣
東大物性研
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高橋 健介
武蔵工大工
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隅谷 和嗣
東京大学物性研究所
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高橋 健介
武蔵工業大学工学部
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服部 健雄
武蔵工業大学工学部
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三木 一司
電総研
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小林 康浩
京大・原子炉
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増田 亮
京都大学
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服部 健雄
東北大学未来科学技術共同研究センター
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矢代 航
東大新領域
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矢代 航
物材機構ナノマテ:産総研ナノテク
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服部 健雄
東京工業大学フロンティア研究機構
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服部 健雄
武蔵工業大学シリコンナノ科学研究センター
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三木 一司
物材機構ナノマテ:産総研ナノテク
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三木 一司
物材・材料研究機構 ナノマテリアル研究所
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三木 一司
産業技術総合研究所 ダイヤモンド研究センター
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三木 一司
物質・材料研究機構 ナノマテリアル研究所
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三木 一司
(独)物質・材料研究機構 ナノ有機センター
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三木 一司
(独)物質・材料研究機構ナノ有機センターナノアーキテクチャーグループ
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菊田 惺志
高輝度光科学研究センター
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服部 健雄
東京工大 フロンティア研究機構
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瀬戸 誠
京都大学 原子炉実験所
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服部 健雄
武蔵工業大学
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増田 亮
JST-CREST:原研機構
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伊賀 文俊
茨城大学
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黒葛 真行
京都大学
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齋藤 真器名
Sincrotrone Trieste
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池田 修悟
兵庫県立大理
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小林 寿夫
兵庫県立大理
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張 小威
KEK-PF
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池田 修悟
兵庫県立大物質理:jst Crest:trip
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高原 忠司
兵庫県立大
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山岡 慎吾
兵庫県立大
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菊田 惺志
東大・工
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小林 寿夫
兵庫県立大物質理:jst Crest:trip
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東谷口 聡
京都大学
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瀬戸 誠
日本原子力研究開発機構
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稲葉 千雅
京大院理
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矢代 航
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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三木 一司
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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矢代 航
産業技術総合研究所ナノテクノロジー研究部門
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三木 一司
産業技術総合研究所ナノテクノロジー研究部門
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清水 富士夫
電通大レーザー量子・物質
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清水 富士夫
東大工
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清水 富士夫
電気通信大学 レーザー新世代研究センター
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Kazaoui Said
産総研ナノカーボン
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北尾 真司
京都大学(原子炉)
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清水 富士夫
Ntt物性基礎研:電通大レーザー
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清水 富士夫
電通大レーザーセンター:crest
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清水 富士夫
日本物理学会選考委員会
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池田 修仮
原子力機構先端研
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小林 康浩
京都大学原子炉実験所
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菊田 惺志
(財)高輝度光科学研究センター
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清水 富士夫
Ntt物性基礎研:電気通信大学レーザー
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清水 富士夫
東京大学工学部
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池田 修吾
原子力開発機構・先端基礎
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池田 修悟
原子力機構/先端基礎研究センター
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小林 寿夫
兵庫県立大
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清水 富士夫
電通大ils
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池田 修悟
兵庫県立大
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瀬戸 誠
京都大学:日本原子力研究開発機構
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北尾 真司
京都大学原子炉実験所
著作論文
- 28aYK-4 放射光メスバウアー吸収スペクトル測定法の開発(X線・粒子線(X線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 28aRE-6 放射光メスバウアー分光法の高エネルギー核種への応用(28aRE X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 24pWG-2 放射光の核ブラッグ散乱を用いたneV分解能の非弾性散乱分光法について(X線・粒子線(X線回折・核共鳴分光),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 21pTC-10 放射光核共鳴吸収分光法の開発研究(X線・粒子線(X線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- SiO_2/Si界面下に誘起された格子歪み : 位相敏感X線回折法による(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- 位相敏感X線回折法によるSiO_2/Si界面以下の微小歪みの測定(極薄ゲート絶縁膜・シリコン界面の評価技術・解析技術)
- 20pPSA-15 複合極限環境下^Eu核共鳴前方散乱によるEuNiO_3の電子状態研究(20pPSA 領域8ポスターセッション(低温:Mn酸化物,V酸化物,鉄オキシニクタイドなど),領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 27pXM-7 X線パラメトリック変換の研究(X線・粒子線(X線))(領域10)
- 28pXU-3 放射光を使ったYbメスバウアー測定法の開発(28pXU 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 28pXU-3 放射光を使ったYbメスバウアー測定法の開発(28pXU 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(X線),ビーム物理領域)
- 27aWG-3 低波数フォノンが励起された媒質中で生じるX線エコー現象(27aWG X線・粒子線,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))