山本 秀和 | 三菱電機パワーデバイス製作所

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概要

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• 同名の論文著者
• 三菱電機パワーデバイス製作所の論文著者

関連著者

• 山本 秀和

  三菱電機パワーデバイス製作所

• 益子 洋治

  大分大学工学部

• 山本 秀和

  三菱電機株式会社LSI研究所

• 松川 和人

  ルネサステクノロジ技術開発統括部

• 服部 信美

  三菱電機株式会社ULSI技術開発センター

• 中井 哲弥

  三菱マテリアル株式会社中央研究所

• 岩松 俊明

  三菱電機株式会社ULSI技術開発センター

• 一法師 隆志

  三菱電機株式会社ULSI技術開発センター

• 一法師 隆志

  (株)ルネサステクノロジ先端デバイス開発部

• 岩松 俊明

  (株)ルネサステクノロジ先端デバイス開発部

• 益子 洋治

  三菱電機株式会社ULSI技術開発センター

• 須藤 充

  三菱マテリアルシリコン株式会社技術本部

• 木村 泰広

  ルネサステクノロジ技術開発統括部

• 片山 俊治

  ルネサステクノロジ技術開発統括部

• 福本 晃二

  ルネサステクノロジ技術開発統括部

• 成岡 英樹

  三菱電機株式会社ULSI技術開発センター

• 岩松 俊明

  ルネサスエレクトロニクス株式会社

• 中井 哲弥

  三菱マテリアルシリコン株式会社技術本部

• 清水 和宏

  三菱電機パワーデバイス製作所

• 山脇 正雄

  三菱電機株式会社 LSI研究所

• 山脇 正雄

  三菱電機株式会社ulsi開発研究所

• 山脇 正雄

  三菱電機

• 川島 光

  三菱電機株式会社ULSI開発研究所

• 川島 光

  三菱電機(株)ULSI研究所LSIプロセス開発第4部

• 榊原 清彦

  三菱電機株式会社LSI研究所

• 西岡 康隆

  三菱電機株式会社LSI研究所

• 前川 繁登

  三菱電機株式会社LSI研究所

• 榊原 清彦

  三菱電機(株)LSI研究所

• 前川 繁登

  三菱電機 (株) ULSI技術開発センター

• 前川 繁登

  ルネサス

• 西岡 康隆

  三菱電機(株)

• 山川 聡

  三菱電機株式会社先端技術総合研究所

• 古川 彰彦

  三菱電機株式会社

• 山川 聡

  三菱電機株式会社

• 福本 晃二

  株式会社ルネサス テクノロジ 生産本部 ウェハプロセス技術統括部

• 今泉 昌之

  三菱電機先端技術総合研究所

• 村上 裕二

  三菱電機パワーデバイス製作所

• 西村 浩明

  三菱電機パワーデバイス製作所

• 高原 昭治

  三菱電機パワーデバイス製作所

• 徳田 法史

  三菱電機パワーデバイス製作所

• 古川 彰彦

  三菱電機先端技術総合研究所

• 山川 聡

  三菱電機先端技術総合研究所

• 山本 秀和

  三菱電機 Ulsi開研

• 榊原 清彦

  三菱電機

• 今泉 昌之

  三菱電機 先端技総研

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著作論文

• 5)HDTVカメラ用1インチ150万画素IT-CCD撮像素子(〔情報入力研究会コンシューマエレクトロニクス研究会〕合同)
• Cu汚染起因ピット不良の評価と水素アニールおよびエピタキシャル成長による改善
• SOIウェーハの表面欠陥評価とそのデバイス特性への影響
• MOS型集積回路とパワーデバイスにおけるシリコン結晶欠陥の影響(半導体材料・デバイス)
• シリコンウェハの技術動向 (超LSI製造・試験装置ガイドブック 2001年版) -- (総論)
• SOIウェーハの表面欠陥評価とそのデバイス特性への影響
• Evaluation of Cu Contamination Induced Pit Failure and Improvement by Hydrogen Anneal and Epitaxial Growth

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