一法師 隆志 | 三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
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概要
関連著者
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一法師 隆志
三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
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一法師 隆志
(株)ルネサステクノロジ先端デバイス開発部
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前川 繁登
三菱電機株式会社LSI研究所
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前川 繁登
(株)ルネサステクノロジ先端デバイス開発部
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前田 茂伸
三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
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三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
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三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
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犬石 昌秀
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犬石 昌秀
株式会社ルネサステクノロジ
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岩松 俊明
(株)ルネサステクノロジ先端デバイス開発部
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岩松 俊明
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前田 茂伸
三菱電機株式会社 Ulsi技術開発センター
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前田 茂伸
Ulsi開発センター
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前川 繁登
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三菱電機株式会社LSI研究所
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大分大学工学部
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三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
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服部 信美
三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
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栗山 祐忠
三菱電機株式会社 知的財産権センター
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中井 哲弥
三菱マテリアルシリコン株式会社技術本部
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山口 泰男
三菱電機株式会社 LSI 研究所
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益子 耕一郎
三菱電機株式会社システムlsi事業化推進センター
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和田 佳樹
三菱電機株式会社システムLSI事業化推進センター
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小柴 浩史
三菱電機株式会社システムLSI事業化推進センター
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松本 拓治
三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
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平野 有一
三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
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上田 公大
三菱電機株式会社システムLSI事業化推進センター
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山口 泰男
三菱電機(株)ulsi技術開発センター
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山口 泰男
株式会社ルネサステクノロジ
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山口 泰男
三菱電機(株)ulsi開発研究所
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上田 公大
三菱電機株式会社
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平野 有一
(株)ルネサステクノロジ
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小紫 浩史
システムlsi事業化推進センター:三菱電機株式会社
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平野 有一
ルネサスエレクトロニクス株式会社
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和田 佳樹
三菱電機(株)システムLSI開発研究所
著作論文
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- SOIウェーハの表面欠陥評価とそのデバイス特性への影響
- A-7-12 多結晶シリコン薄膜トランジスタの特性バラツキを利用した人工指紋デバイスの提案
- 人工指紋デバイス : ロジックLSI互換プロセスで作成した多結晶シリコンTFTによるセキュリティーの作りこみ
- SOIウェーハの表面欠陥評価とそのデバイス特性への影響
- フィールドシールド分離によるSOI/CMOSデバイス技術