川浦 久雄 | NEC(株)基礎・環境研究所

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概要

• 同名の論文著者
• NEC(株)基礎・環境研究所の論文著者

関連著者

• 江崎 達也

  広島大学

• 羽根 正巳

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 池澤 健夫

  NEC情報システムズ

• 山本 豊二

  MIRAI-ASET

• 若林 整

  NEC

• 若林 整

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 江崎 達也

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 阪本 利司

  NEC(株)基礎・環境研究所

• 川浦 久雄

  NEC(株)基礎・環境研究所

• 山上 滋春

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 竹内 潔

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 山本 豊二

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 山本 豊二

  NECシリコンシステム研究所

• 若林 整

  NECラボラトリーズシステムデバイス・基礎研究本部シリコンシステム研究所

• 川浦 久雄

  日本電気(株)ビジネスイノベーションセンター

• 阪本 利司

  日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所

• 阪本 利司

  Necデバイスプラットフォーム研究所

• 若林 整

  ソニー(株)

• 竹内 潔

  NECエレクトロニクス株式会社LSI基礎開発研究所

• 羽根 正巳

  NECエレクトロニクス株式会社LSI基礎開発研究所

• 羽根 正己

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 羽根 正巳

  Necシステムデバイス・基礎研究本部

• 羽根 正巳

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 阪本 利司

  Nec 基礎・環境研

• 阪本 利司

  日本電気(株)基礎・環境研究所

• 池澤 健夫

  株式会社NEC情報システムズ

• 竹内 潔

  ルネサスエレクトロニクス(株)先行研究統括部

• 羽根 正巳

  ルネサスエレクトロニクス先行研究統括部

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著作論文

• Sub-10-nm平面型Bulk CMOSにおけるS/D直接トンネル電流特性(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))

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