堀口 誠二 | NTT物性科学基礎研究所
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概要
関連著者
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影島 博之
NTT物性基礎研
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永瀬 雅夫
NTT物性基礎研
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高橋 庸夫
NTT物性基礎研
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白石 賢二
NTT物性科学基礎研究所
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白石 賢二
筑波大学物理学系
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永瀬 雅夫
Ntt物性科学基礎研究所
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堀口 誠二
日本電信電話株式会社ntt物性科学基礎研究所
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白石 賢二
筑波大物理
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堀口 誠二
NTT物性科学基礎研究所
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高橋 庸夫
北海道大学情報科学研究科
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永瀬 雅夫
Ntt 物性科学基礎研
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村瀬 克実
NTT物性科学基礎研究所
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高橋 庸夫
北大
著作論文
- 酸化誘起歪みと量子サイズ効果に起因するSi SET動作機構の伝導方向依存性
- 酸化誘起歪みと量子サイズ効果に起因するSi SET動作機構の伝導方向依存性
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- パターン依存酸化(PADOX)法を用いて製作したSi SETにおけるポテンシャルプロファイル形成機構
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