犬飼 貴士 | 東京大学生産技術研究所
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概要
関連著者
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犬飼 貴士
東京大学生産技術研究所
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平本 俊郎
東京大学生産技術研究所
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高宮 真
東京大学
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平本 俊郎
東京大学 大規模集積システム設計教育研究センター
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高宮 真
東京大学 生産技術研究所
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桜井 貴康
東京大学
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野瀬 浩一
東京大学生産技術研究所:(現)日本電気株式会社
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川口 博
神戸大学大学院工学研究科
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Hiramoto Toshiro
The Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo:vlsi Design And Education Center The Uni
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犬飼 貴士
東京大学 生産技術研究所
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野瀬 浩一
日本電気株式会社:慶應義塾大学
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高宮 真
東京大学 大規模集積システム設計教育研究センター
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桜井 貴康
東京大学生産技術研究所
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高宮 真
東京大学生産技術研究所
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間島 秀明
東京大学 生産技術研究所
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南雲 俊治
NECエレクトロニクス株式会社LSI基礎開発研究所
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南雲 俊治
東京大学生産技術研究所
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大澤 淳真
東京大学生産技術研究所
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王 海寧
東京大学 生産技術研究所
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後明 寛之
東京大学 生産技術研究所
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川口 博
東京大学生産技術研究所
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齋藤 真澄
(株)東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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齋藤 真澄
東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
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大澤 淳真
東京大学生産技術研究所:中央大学大学院理工学研究科
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野瀬 浩一
東京大学生産技術研究所
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桜井 貴康
東京大学 国際・産学共同研究センター
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川口 博
東京大学 国際・産学共同研究センター
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齋藤 真澄
東京大学生産技術研究所
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間島 秀明
東京大学生庭技術研究所
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王 海寧
東京大学生産技術研究所
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後明 寛之
東京大学生産技術研究所
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齋藤 真澄
東京大学 生産技術研究所
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野瀬 浩一
東京大学 生産技術研究所
-
小宇羅 寛
東京大学 生産技術研究所
著作論文
- しきい電圧可変完全空乏型SOIMOSFETのしきい電圧調整範囲
- しきい電圧可変完全空乏型SOI MOSFETのしきい電圧調整範囲
- シリコン微結晶を用いたメモリデバイスにおけるドットサイズとサイズのばらつきの影響評価とポテンシャル分布
- シリコン微結晶を用いたメモリデバイスにおけるドットサイズとサイズのばらつきの影響評価とポテンシャル分布
- ED2000-124 / SDM2000-106 / ICD-2000-60 Boosted Gate MOS(BGMOS) : デバイスと回路の協調によるリークフリー回路の提案
- ED2000-124 / SDM2000-106 / ICD2000-60 Boosted Gate MOS (BGMOS) : デバイスと回路の協調によるリークフリー回路の提案
- ED2000-124 / SDM2000-106 / ICD2000-60 Boosted Gate MOS(BGMOS) : デバイスと回路の協調によるリークフリー回路の提案
- VTCMOSにおける基板バイアス係数と基板電位の最適条件とそのスケーリング