川口 博 | 東京大学生産技術研究所

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概要

• 同名の論文著者
• 東京大学生産技術研究所の論文著者

関連著者

• 桜井 貴康

  東京大学

• 川口 博

  神戸大学大学院工学研究科

• 川口 博

  東京大学生産技術研究所

• 桜井 貴康

  東京大学生産技術研究所

• 宮崎 隆行

  東京大学生産技術研究所

• 野瀬 浩一

  東京大学生産技術研究所:(現)日本電気株式会社

• 許 蛍雪

  東京大学生産技術研究所

• 野瀬 浩一

  東京大学生産技術研究所

• 野瀬 浩一

  日本電気株式会社:慶應義塾大学

• 崔 珍赫

  東京大学生産技術研究所

• 平本 俊郎

  東京大学生産技術研究所

• 井高 康仁

  東京大学生産技術研究所

• 神田 浩一

  東京大学生産技術研究所

• 神田 浩一

  Institute Of Industrial Science University Of Tokyo

• 高宮 真

  東京大学

• 染谷 隆夫

  東京大学工学系研究科

• 高宮 真

  東京大学生産技術研究所

• アントノ ダナルドノ

  東京大学

• 犬飼 貴士

  東京大学生産技術研究所

• アントノ ダナルドノ

  東京大学生産技術研究所

• 高宮 真

  東京大学 生産技術研究所

• 黒田 忠広

  慶應義塾大学

• 石田 光一

  東京大学

• 関谷 毅

  東京大学

• 関谷 毅

  東京大学工学系研究科

• 加藤 祐作

  東京大学工学系研究科

• 関谷 毅

  東京大学大学院工学系研究科

• 桜井 貴康

  東京大学国際・産学共同研究センター

• 閔 庚〓

  東京大学生産技術研究所

• 稲垣 賢一

  東京大学

• 桜井 貴康

  Institute Of Industrial Science University Of Tokyo

• 石田 光一

  東京大学生産技術研究所

• 黒田 忠広

  慶応義塾大学

• 関 庚提

  東京大学生産技術研究所

• Hiramoto Toshiro

  The Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo:vlsi Design And Education Center The Uni

• 伊庭 信吾

  東京大学工学系研究科量子相エレクトロニクス研究センター

• 李 誠洙

  梨花女子大学情報通信学科

• 服部 貞昭

  東京大学生産技術研究所

• 山田 大裕

  東京大学生産技術研究所

• 稲垣 賢一

  東京大学生産技術研究所

• 平林 雅之

  東京大学生産技術研究所

• 山田 大裕

  東京大学生産技術研究所:(現)みずほ証券株式会社

• ミン グエン

  (株)東芝デジタルメディア社

• 服部 貞昭

  東京大学生産技術研究所:(現)kddi株式会社

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著作論文

• 二重ワード線と二重ビット線構造を用いた3次元積層シート型スキャナ(VLSI一般(ISSCC2005特集))
• 1.27Gb/s/pin, 3mW/pin Wireless Superconnect (WSC) Interface Scheme(VSLI一般(ISSCC'03関連特集))
• A 0.5V, 400MHz, V_-Hopping Processor with Zero-V_ FD-SOI Technology(VSLI一般(ISSCC'03関連特集))
• 閾値ホッピング(V_-hopping)手法を用いた低電圧・低消費電力プロセッサ (「VLSI一般」)
• ED2000-124 / SDM2000-106 / ICD-2000-60 Boosted Gate MOS(BGMOS) : デバイスと回路の協調によるリークフリー回路の提案
• ED2000-124 / SDM2000-106 / ICD2000-60 Boosted Gate MOS(BGMOS) : デバイスと回路の協調によるリークフリー回路の提案
• 0.5V電源電圧における低スタンバイ電流CMOS設計法
• 0.5v電源電圧における低スタンバイ電流CMOS設計法
• 低電圧SRAMのためのDynamic Leakage Cut-off設計法
• 低電圧SRAMのためのDynamic Leakage Cut-off設計法
• 低電圧SRAMのためのDynamic Leakage Cut-off設計法
• Cut-and-Paste Organic FET Customized ICs for Application to Artificial Skin (VLSI一般(ISSCC2004特集))
• 高リーク環境におけるSelf-Timed Cut-Off法を利用した統計的なリーク電流削減手法(システムLSIの応用とその要素技術,専用プロセッサ,プロセッサ,DSP,画像処理技術,及び一般)
• 高りーク環境におけるSelf-Timed Cut-Off法を利用した統計的なリーク電流削減手法(システムLSIの応用とその要素技術,専用プロセッサ,プロセッサ,DSP,画像処理技術,及び一般)
• 高りーク環境におけるSelf-Timed Cut-Off法を利用した統計的なリーク電流削減手法(システムLSIの応用とその要素技術,専用プロセッサ,プロセッサ,DSP,画像処理技術,及び一般)
• 高りーク環境におけるSelf-Timed Cut-Off法を利用した統計的なリーク電流削減手法(システムLSIの応用とその要素技術,専用プロセッサ,プロセッサ,DSP,画像処理技術,及び一般)
• 高リーク環境における Self-Timed Cut-Off 法を利用した統計的なリーク電流削減手法
• A-3-11 Fast Block-Wise V_-Hopping Scheme
• デジタル家電に向けた低リーク電力デジタル回路技術 : Zigzag SCCMOS Scheme(ディジタル情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI)
• 低スタンバイ電流SRAMのための異常リーク電流抑制方式 (メモリ・混載メモリ及びIC一般)

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