宮崎 隆行 | 東京大学生産技術研究所
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概要
関連著者
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桜井 貴康
東京大学
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桜井 貴康
東京大学生産技術研究所
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宮崎 隆行
東京大学生産技術研究所
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川口 博
神戸大学大学院工学研究科
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川口 博
東京大学生産技術研究所
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許 蛍雪
東京大学生産技術研究所
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崔 珍赫
東京大学生産技術研究所
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神田 浩一
東京大学生産技術研究所
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神田 浩一
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo
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服部 貞昭
東京大学生産技術研究所
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服部 貞昭
東京大学生産技術研究所:(現)kddi株式会社
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石田 光一
東京大学
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閔 庚〓
東京大学生産技術研究所
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石田 光一
東京大学生産技術研究所
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関 庚提
東京大学生産技術研究所
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平本 俊郎
東京大学生産技術研究所
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野瀬 浩一
東京大学生産技術研究所:(現)日本電気株式会社
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野瀬 浩一
日本電気株式会社:慶應義塾大学
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稲垣 賢一
東京大学
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徳永 和宏
日本電信電話株式会社サービスインテグレーション基盤研究所
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アントノ ダナルドノ
東京大学
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Hiramoto Toshiro
The Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo:vlsi Design And Education Center The Uni
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アントノ ダナルドノ
東京大学生産技術研究所
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山田 大裕
東京大学生産技術研究所
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稲垣 賢一
東京大学生産技術研究所
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徳永 和宏
東京大学生産技術研究所
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山田 大裕
東京大学生産技術研究所:(現)みずほ証券株式会社
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アントノ ダナルドノ・ドウイ
東京大学生産技術研究所
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野瀬 浩一
東京大学生産技術研究所
著作論文
- A 0.5V, 400MHz, V_-Hopping Processor with Zero-V_ FD-SOI Technology(VSLI一般(ISSCC'03関連特集))
- 高リーク環境におけるSelf-Timed Cut-Off法を利用した統計的なリーク電流削減手法(システムLSIの応用とその要素技術,専用プロセッサ,プロセッサ,DSP,画像処理技術,及び一般)
- 高りーク環境におけるSelf-Timed Cut-Off法を利用した統計的なリーク電流削減手法(システムLSIの応用とその要素技術,専用プロセッサ,プロセッサ,DSP,画像処理技術,及び一般)
- 高りーク環境におけるSelf-Timed Cut-Off法を利用した統計的なリーク電流削減手法(システムLSIの応用とその要素技術,専用プロセッサ,プロセッサ,DSP,画像処理技術,及び一般)
- 高りーク環境におけるSelf-Timed Cut-Off法を利用した統計的なリーク電流削減手法(システムLSIの応用とその要素技術,専用プロセッサ,プロセッサ,DSP,画像処理技術,及び一般)
- 高リーク環境における Self-Timed Cut-Off 法を利用した統計的なリーク電流削減手法
- A-3-11 Fast Block-Wise V_-Hopping Scheme
- A-1-17 標準CMOSプロセスを用いた音波発生デバイス(A-1. 回路とシステム)
- A-3-10 超低リーク LUT (Lookup Table)
- A-3-8 低電力・ライブラリ・セルの選択に関する一検討
- A-1-6 リーク電流エミュレータ : 高閾値デバイスによる低閾値エミュレーション
- デジタル家電に向けた低リーク電力デジタル回路技術 : Zigzag SCCMOS Scheme(ディジタル情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI)
- 行単位での電源電圧制御(RRDV)を用いたSRAMのリーク電力削減手法 : 0.5V世代の高速SRAMを目指して
- センスアンプ型メモリセルを用いたSRAM書き込み電力の削減方式
- センスアンプ型メモリセルを用いたSRAM書き込み電力の削減方式