山道 新太郎 | 日本電気(株)

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概要

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関連著者

• 山道 新太郎

  日本電気(株)

• 副島 康志

  NECエレクトロニクス

• 川野 連也

  Necエレクトロニクス(株)先端プロセス事業部

• 森 健太郎

  日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所

• 菊池 克

  日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所

• 村井 秀哉

  日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所

• 大島 大輔

  日本電気(株)システム実装研究所

• 中島 嘉樹

  日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所

• 村上 朝夫

  日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所

• 中島 嘉樹

  日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所

• 宮坂 洋一

  NEC基礎研究所

• 川野 連也

  NECエレクトロニクス

• 薮田 久人

  キャノン先端融合研

• 宮坂 洋一

  日本電気(株)基礎研究所材料研究部

• 川野 達也

  Necエレクトロニクス株式会社実装技術部

• 森 健太郎

  日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所

• 菊池 克

  日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所

• 山道 新太郎

  日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所

• 川野 達也

  Necエレクトロニクス

• 竹村 浩一

  NEC基礎研究所

• 吉田 政次

  日本電気(株)

• 有田 幸司

  日本電気(株)

• 藪田 久人

  日本電気(株)

• 曽祢 修次

  日本電気(株)

• 竹村 浩一

  日本電気(株)

• 佐久間 敏幸

  日本電気(株)

• 加藤 芳健

  日本電気(株)

• 飯塚 敏洋

  日本電気(株)

• 山口 弘

  日本電気(株)

• LESAICHERRE Pierre-Yves

  日本電気(株)

• 西本 昭三

  日本電気(株)

• 佐久間 敏幸

  NEC 基礎研究所

• 藪田 久人

  広大総合科

• 薮田 久人

  広大総合科

• 山口 弘

  Nec基礎研究所

• 曽祢 修次

  NEC基礎研究所

• 加藤 芳健

  NEC基礎研究所

• 川野 連也

  Necエレクトロニクス(株)実装技術部

• 大島 大輔

  日本電気株式会社システム実装研究所

• 藪田 久人

  広大・総合科

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著作論文

• 次世代LSIパッケージ用チップ及びパッケージレベルのシームレスインターコネクト技術 (シリコン材料・デバイス)
• ギガビットDRAM用のECRプラズマCVD-(Ba, Sr)TiO_3容量膜
• 次世代LSIパッケージ用チップ及びパッケージレベルのシームレスインターコネクト技術(配線・実装技術と関連材料技術)
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