村井 秀哉 | 日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
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概要
関連著者
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村井 秀哉
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
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副島 康志
NECエレクトロニクス
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川野 連也
Necエレクトロニクス(株)先端プロセス事業部
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山道 新太郎
日本電気(株)
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森 健太郎
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
-
菊池 克
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
-
大島 大輔
日本電気(株)システム実装研究所
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中島 嘉樹
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
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村上 朝夫
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
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中島 嘉樹
日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所
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菊池 克
日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所
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五藤 智久
日本電気(株)サービスプラットフォーム研究所
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村井 秀哉
NEC機能デバイス・材料研究本部
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五藤 智久
日本電気(株) 機能材料研
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五藤 智久
日本電気(株)
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川野 連也
NECエレクトロニクス
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川野 達也
Necエレクトロニクス株式会社実装技術部
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森 健太郎
日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所
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山道 新太郎
日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所
-
川野 達也
Necエレクトロニクス
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川野 連也
Necエレクトロニクス(株)実装技術部
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大島 大輔
日本電気株式会社システム実装研究所
著作論文
- 次世代LSIパッケージ用チップ及びパッケージレベルのシームレスインターコネクト技術 (シリコン材料・デバイス)
- 次世代LSIパッケージ用チップ及びパッケージレベルのシームレスインターコネクト技術(配線・実装技術と関連材料技術)
- 4F123 リバースモード液晶 : 高分子複合膜
- 4F122 エポキシ樹脂を用いた液晶 : 高分子複合膜の電気光学特性
- LSIパッケージ用らせん配線型応力緩和構造 (MEMS 2006 第16回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集)
- 次世代LSIパッケージ用チップ及びパッケージレベルのシームレスインターコネクト技術