STMにおける試料と探針からの電界蒸発 (走査プロ-ブ顕微鏡の最前線<特集>)
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概要
著者
-
小林 中
金沢工大 工
-
青野 正和
物材機構mana
-
GREY Francois
デンマーク工科大学マイクロエレクトロニクスセンター
-
Grey F
新技術事業団青野原子制御表面プロジェクト
-
Grey F
デンマーク工科大学マイクロエレクトロニクスセンター
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