Time-of-Flight Measurement of Lateral Carrier Mobility in Organic Thin Films
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概要
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Lateral carrier transport in a copper phthalocyanine (CuPc) thin film has been investigated by the time-of-flight technique using a micro-excitation system. Drift mobility in the CuPc film has been estimated from the transient photocurrent measured for various electric field strengths. The drift mobility has been compared to the field-effect mobility of a thin-film transistor with CuPc as the channel material. The field-effect mobility was comparable to the drift mobility measured by the TOF technique.
- Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physicsの論文
- 2004-04-15
著者
-
Arakawa Yasuhiko
Research Center For Advanced Science And Technology And Institute Of Industrial Science University O
-
Kako Satoshi
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo
-
Kitamura Masatoshi
Research Center For Advanced Science And Technology University Of Tokyo
-
Arakawa Yasuhiko
Research Center for Advanced Science and Technology, University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8504, Japan
-
Imada Tadahiro
Research Center for Advanced Science and Technology, University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8504, Japan
-
Kitamura Masatoshi
Research Center for Advanced Science and Technology, University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8504, Japan
-
Kako Satoshi
Institute for Nano Quantum Information Electronics, The University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro, Tokyo 153-8505, Japan
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