電子線干渉法による磁性材料観察

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概要

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電子線ホログラフィー、ローレンツ顕微鏡法など電子線干渉を用いた磁性材料の観察に関して、原理と手法を中心に、応用例とともに紹介いたします。
公益社団法人日本表面科学会の論文
2011-05-25

著者

Aoki Hidemitsu
Department of Electrical Electronic and Information Engineering, Osaka University, 2-1 Yamada-oka, Suita, Osaka 565-0871, Japan
Kimura Chiharu
Department of Electrical Electronic and Information Engineering, Osaka University, 2-1 Yamada-oka, Suita, Osaka 565-0871, Japan
Kawase Yasuhiro
Semiconductor Materials Laboratories, Mitsubishi Chemical Corporation, Kitakyushu 806-0004, Japan
Hara Makoto
Department of Electrical, Electronic and Information Engineering, Osaka University, Suita, Osaka 565-0871, Japan
Ito Atsushi
Semiconductor Materials Laboratories, Mitsubishi Chemical Corporation, Kitakyushu 806-0004, Japan
Suzuki Toshiyuki
Semiconductor Materials Laboratories, Mitsubishi Chemical Corporation, Kitakyushu 806-0004, Japan
Sakae Rina
Department of Electrical, Electronic and Information Engineering, Osaka University, Suita, Osaka 565-0871, Japan
原田研
Semiconductor Materials Laboratories, Mitsubishi Chemical Corporation, Kitakyushu 806-0004, Japan

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