MEMSネガレジストの粗視化分子動力学シミュレーション
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概要
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This paper reports on a newly developed coarse-grained molecular dynamics simulation for epoxy-based chemically-amplified photoresist dedicated to MEMS. To analyze photoresists material properties, Kremer-Grest model (bead-spring model) with an extended angle bending potential was newly employed. A uniaxial elongation simulation and the molecular diffusion simulation were performed to analyze the dependence of an elastic modulus and a molecular permeability on the cross-linked ratio of a photoresists, since these characteristics are important for a permeable membrane made of photoresist to control biological molecules diffusion in biomedical applications. The simulated dependencies of the elastic modulus and the molecular permeability on the cross-linked ratio of photoresists showed good correspondences with the experimental results. This suggests a photoresists membrane can be used as a molecular permeable membrane with controllable permeability by varying photolithography process parameters.
著者
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田畑 修
京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
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平井 義和
京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
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菅野 公二
京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
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土屋 智由
京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
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上杉 晃生
京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
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柳生 裕聖
関東学院大学理工学部理工学科
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牧野 圭秀
京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
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