放射光を照射したPTFE表面に対する加熱効果の光電子分光による観察
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概要
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The chemical composition and components of a synchrotron radiation (SR) irradiated polytetrafluoroethylene (PTFE) surface were investigated as a function of the annealing temperature by the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). When the annealing temperature of SR irradiated PTFE was less than 150 °C, almost no change was observed in XPS spectra. With increasing the annealing temperature at more than 200 °C, the relative intensity of the F 1s peak to the C 1s peak increased gradually. In addition, the intensity of the CF2 component also increased. These results indicate that the chemical composition and components of the SR irradiated PTFE surfaces are restored by annealing. Based on the XPS spectra, the annealing effect on the chemical composition and components is discussed.
著者
-
石垣 博行
兵庫県立大学大学院
-
春山 雄一
兵庫県立大高度研
-
松井 真二
兵庫県立大高度研
-
出田 智也
兵庫県立大学大学院 工学研究科
-
松井 真二
兵庫県立大
-
春山 雄一
兵庫県立大学 高度産業科学技術研究所
-
石垣 博行
兵庫県立大学 大学院 工学研究科
-
石垣 博行
兵庫県立大学大学院 工学研究科
-
春山 雄一
兵庫県立大
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