パレート最適を用いたアナログ回路の最適化(システム設計と高位・論理設計,物理設計及び一般)
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概要
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As the CMOS technology has benn continuously scaling down, the performances of analog/mixed-signal chips fluctuate remarkably due to the increasing variations of shrunk processes. It is necessary to take the yield as a design objective in design automation. This paper presents a method to generate yield-embedded Pareto-front by which we can optimize yield and performances simultaneously.
- 2010-09-20
著者
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金澤 裕治
(株)富士通研究所
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金澤 裕治
株式会社富士通研究所itコア研究所cad研究部
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吉岡 正人
(株)富士通研究所
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吉岡 正人
富士通研究所
-
リュウ ウ
富士通研究所
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本間 克己
富士通研究所
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金澤 裕治
富士通研究所
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澁谷 利行
米国富士通研究所
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渋谷 利行
(株)富士通研究所
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