B-4-57 散乱波電界強度測定による高周波誘電率の簡易推定(B-4.環境電磁工学,一般セッション)

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2008-09-02

著者

• 井上 浩

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 駒木根 隆士

  秋田県産業技術総合研究センター

• 井上 浩

  秋田大学

• 黒澤 孝裕

  秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所

• 駒木根 隆士

  秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所

• 井上 浩

  秋田大学 大学院工学資源学研究科

• 黒澤 孝裕

  秋田県産業技術センター

• 駒木根 隆士

  秋田県産業技術センター

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