システムLSIにおける電源線雑音の測定・低減手法(再構成可能デバイス/キャリブレーション,システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
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概要
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本論分では、集積回路における雑音測定方式、および雑音の低減方式に関して、時間領域での雑音波形の取得、周波数領域での雑音スペクトルの取得、および基板雑音の能動的な軽減手法に関してのこれまでの研究動向に関して紹介し、今後の方向に関して検討している。
- 2007-03-01
著者
-
浅田 邦博
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
-
池田 誠
東京大学 大学院 工学系研究科
-
浅田 邦博
東京大学 大学院 工学系研究科
-
浅田 邦博
東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻
-
浅田 邦博
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター(vdec):東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
浅田 邦博
東京大学大学院工学系研究科
-
池田 誠
東京大学大学院工学系研究科
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