オンチップ電圧スキャンパスを用いた電源電圧変動検証手法
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概要
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本報告では、システム・オン・チップ時代のデジタルLSIにおいて問題になると考えられる電源電圧変動に対して、スイッチトキャパシターを用いた再生型コンパレータによる電圧サンプル回路をシフトレジスタのように直列に接続するオンチップ電圧スキャン方式の提案を行い、テストチップを用いた電源電圧変動の測定によりその有効性を示している。本方式を実際チップの電源配線に埋め込むことで、動作環境における電源電圧変動の観測が可能となり、その結果により安全な電源設計が可能になるものと期待している。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-12-02
著者
-
池田 誠
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
-
浅田 邦博
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
-
青木 秀行
東京大学工学部電子工学科:東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
-
青木 秀行
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
-
浅田 邦博
東京大学大学院工学系研究科
-
池田 誠
東京大学大学院工学系研究科
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