電源グリッドモデルにおける多端子F行列を用いた高速ノイズ評価手法(システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
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概要
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近年の高集積化と低電圧化にともない,電源線に生じるノイズの影響が深刻になってきている。電源ノイズは信号の遅延時間を増加させ,最悪の場合では論理エラーを引き起こすため,設計段階で電源ノイズを高速に見積もる必要性が高まってきている。本稿では,電源グリッド配線といったジェネラルグラフを対象に電源線を多端子F行列に分割し伝達関数を用いることで,全電源線ノードのノイズの影響を静的にかつ高速に計算する手法を提案する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-27
著者
-
池田 誠
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
-
浅田 邦博
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
-
杉山 聡
東京大学大学院工学系研究科
-
浅田 邦博
東京大学大学院工学系研究科
-
池田 誠
東京大学大学院工学系研究科
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