CMOSイメージセンサの感度特性と評価(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
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概要
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CMOS技術は微細化しつつある。それに従い、CMOSイメージセンサの感度特性も低下していく。高感度イメージセンサは、各プロセスにおける感度特性のスケーリングはCMOSイメージセンサの設計に重要である。本稿では、CMOS 0.35μm、0.6μmプロセスによるイメージセンサの感度特性を測定した結果を報告する。また、微細化の進んだプロセスの感度特性をスケーリングし、評価した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-09-18
著者
-
浅田 邦博
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
-
池田 誠
東京大学 大学院 工学系研究科
-
浅田 邦博
東京大学 大学院 工学系研究科
-
浅田 邦博
東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻
-
浅田 邦博
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター(vdec):東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
金 允〓
東京大学 大学院 工学系研究科
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