しま・斑点画像パターンの修復を行う反応拡散モデルとそのLSI化(LSI, <小特集>スマート信号処理とその画像・音声処理への応用論文)
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概要
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本論文は, 欠損や汚れのある画像パターンをリアルタイムに修復するLSIの開発を目指したものである. そのために, 生物の形づくりの原理に基づいて, 指紋や体模様に見られるしま・斑点などのTuringパターンを生成・修復する反応拡散モデルを提案する. その後, そのモデルを実装する反応拡散チップの並列アーキテクチャを提案する. 回路シミュレーションにより, このLSIがしま(斑点)パターンを復元できることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-11-01
著者
-
浅井 哲也
北海道大学 大学院 情報科学研究科
-
鈴木 洋平
北海道大学 大学院情報科学研究科
-
高山 貴裕
はこだて未来大学大学院 システム情報科学研究科
-
鈴木 洋平
北大院情報
-
高山 貴裕
公立はこだて未来大学システム情報科学部
-
元池 育子N.
はこだて未来大学システム情報科学部複雑系科学科
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