低電圧CMOSディジタル回路のプロセスバラツキ補正技術
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概要
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In low-voltage CMOS digital circuits, the threshold voltage variation causes significant circuit performance fluctuation: we therefore propose on-chip process compensation techniques for such circuits. We used voltage reference circuits, that can monitor process variations. We confirmed the operation of the circuit by using a SPICE simulation with a set of 0.35-μm standard CMOS parameters, and we performed Monte Carlo simulations assuming process spread and device mismatch in all MOSFETs. SPICE simulation demonstrated that the process variations of digital circuits were improved by 45% after applying the proposed architecture. These techniques will be useful for the on-chip process compensation of low-voltage digital circuits.
- 社団法人 映像情報メディア学会の論文
- 2009-11-01
著者
-
上野 憲一
北海道大学 大学院 情報科学研究科
-
廣瀬 哲也
神戸大学 大学院 工学研究科
-
浅井 哲也
北海道大学 大学院 情報科学研究科
-
雨宮 好仁
北海道大学 大学院 情報科学研究科
-
廣瀬 哲也
神戸大学大学院工学研究科
-
次田 祐輔
北海道大学 大学院 情報科学研究科
-
雨宮 好仁
北海道大学大学院情報科学研究科
-
浅井 哲也
はこだて未来大複雑系
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