同軸型電界プローブの非侵襲条件の検討(その2)(プローブ・アンテナ関連, マイクロ波EMC/一般)
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概要
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PCB近傍の電界分布を非侵襲的に計測できる電界プローブを開発することが急務である.本研究では, セミリジッド型同軸電界プローブの長さと終端負荷を変えた場合の非侵襲条件について検討した.PCB上に配置された電界プローブ終端の電圧をFDTD解析によって求め, 検出した電界分布を理論的な電界と比較を行って, 非侵襲条件を検討した.その結果, 電界プローブの外被導体の長さを10mm, 1kΩの抵抗によりプローブを終端したときに, 理論的な電界分布と一致することが明らかとなった.この条件は, 周波数や基板の位置によっては影響されないことも示された.一方, 外被導体の長い電界プローブや, 同軸ケーブルの外被導体を電界プローブに接続することにより, 電界分布形状が変化したことから, 外被導体は電界分布計測結果に重大な影響を及ぼすことが明らかとなった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-10-20
著者
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
井上 浩
秋田大学
-
春日 貴志
長野工業高等専門学校
-
井上 浩
秋田大工学資源
-
春日 貴志
秋田大学工学資源学部
-
Kasuga Takashi
Nagano National College Of Technology
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