光ファイバ着色心線における塗布不良検出装置の検討
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概要
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光ファイバの一次被覆は、数10μm以下の厚さで、長尺に渡って均一な塗布をファイバ上に行う必要がある。しかしながら、実際には、非常に小さい確率ながら塗布不良部が発生する可能性があるため、光ファイバの品質保持の上では、スクリーニングと同様、全長に渡って、塗布の良好を保証できるようなシステムが必要である。そのために、一般には塗布不良検出装置がライン上に設置されている。今回我々は、高性能な塗布不良検出装置の開発を行ったので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-09-26
著者
-
井上 享
住友電気工業株式会社
-
角田 樹哉
住友電気工業株式会社横浜研究所
-
細谷 俊史
住友電気工業(株)横浜研究所
-
井上 享
住友電気工業(株)光通信研究所
-
細谷 俊史
住友電気工業(株)
-
小林 勇仁
住友電気工業株式会社
-
細谷 俊史
住友電気工業(株)光通信研究所
-
角田 樹哉
住友電気工業株式会社
-
井上 亨
住友電気工業株式会社
-
細谷 俊史
住友電気工業 光通信研
-
小林 勇仁
住友電気工業(株)
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