AlN上に形成された厚膜導体の高周波伝送損特性に対するガラス滞留層の影響について
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
高熱伝導, 高絶縁性を有する, AlNセラミックス基板上に形成した厚膜配線導体の高周波伝送損特性を測定し, 厚膜配線導体の膜質と伝送損の関係について明らかにした.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-10-25
著者
関連論文
- TMRヘッドにおけるマグノイズ解析(磁気記録)
- Fe/Mn-Ir交換結合単磁区磁性薄膜の磁気Kerr効果を用いた光信号式歪センサの基礎検討
- 高抵抗微結晶磁性薄膜の高周波電気抵抗の測定
- 携帯端末用PFM制御マイクロDC-DCコンバータの開発(スイッチング電源,家庭向け情報通信機器のエネルギー技術,一般)
- 高周波電力用マイクロ磁気デバイスの開発動向(制御技術関連)
- Fe系金属微粒子分散媒質を装荷したモノポールアンテナの試作
- CMOS-IC負荷におけるスイッチング電源ノイズのシグナル・インテグリティに及ぼす影響(制御技術関連)
- 高周波用フェライトめっき膜
- (283)環境マインドを有する技術者の育成教育としてのISO14001内部監査の効果(セッション81 工学教育の個性化・活性化VI)
- CoPdSiO磁性薄膜インダクタ/ポリイミドMIMキャパシタを用いた2段共振器型高次スプリアスフィルタの試作