SRAM EMS耐性についての一考察(電子部品の信頼性,信頼性一般)
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概要
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システムLSIの微細化・低電圧化・高速化に伴い、EMS耐性が低下する傾向にある。システムLSIの主要構成要素であるSRAMについてラディエーションプローブ法およびLSIテスターを用いた電源ラインノイズ法を用いてEMS耐性を評価した。今回、LSIテスターによる電源ラインノイズ法の有効性を示すとともに、評価したSRAMのEMS耐性を悪くしている要因が読み出し時のデータ転送系の不具合にある事が分かり、更なるEMS耐性向上の可能性を示すことができたので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-11-07
著者
-
和田 哲明
松下電器産業株式会社 半導体社 品質技術グループ
-
和田 哲明
松下電器産業
-
渡部 尚数
松下電器産業株式会社半導体社グローバル品質管理センター
-
河南 靖
松下電器産業株式会社半導体社グローバル品質管理センター
-
田中 雅二
松下電器産業株式会社半導体社グローバル品質管理センター
-
田中 雅二
松下電器産業 グローバル品質管理セ
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