Y_2O_2S:Eu^<3+>蛍光体の2波長励起フォトルミネッセンス
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概要
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Above-Gap励起光(AGE,hV_A>Eg)、Below-Gap励起光(BGE,hV_B<Eg)を試料に照射し、BGE照射によるフォトルミネッセンス(PL)強度の変化を測定する2波長励起PL法により、禁制帯内準位の定量評価を進めている。 Y^_2O_2S:Eu^<3+,>光体試料において、BGE照射によるEu^<3+>の過渡的なPL(輝尽)を観測し、そのEu3+添加濃度依存性を調べた.その結果、検出された準位はE^<3+>添加ではなく、母体欠陥に起因することが示された。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-01-20
著者
-
鎌田 憲彦
埼玉大学工学部
-
岡本 航
埼玉大学工学部
-
鎌田 憲彦
埼玉大 工
-
岡本 航
埼玉大学工学部機能材料工学科
-
木島 直人
埼玉大学工学部機能材料工学科
-
木島 直人
三菱化学科学技術研究センター
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