円偏光変調法を用いた磁気光学顕微鏡による磁性材料の評価(高密度磁気ストレージ材料 : 開発の現状・未来と解析技術)
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概要
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定量的に磁気光学像を得るために円偏光変調法を用いた磁気光学顕微鏡の開発を行った.本手法では、回転角と楕円率の磁気光学像は,直線偏光,右回り円偏光および左回り円偏光の3つの偏光を使って撮影した画像から一度の操作で得ることができ.それらの絶対値が標準試料を使わずに決定することができる.実際に,ガラス基板上に作製した50μm角にパターニングされた垂直磁化の磁性ガーネット薄膜を用いて磁気光学顕微鏡としての性能を評価した.その結果,450〜650nmの波長範囲においてファラデー回転角,楕円率ともにスペクトロメータで測定した値と良く一致した.また,得られた画像から回転角の分解能は,0,05度であった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-10-29
著者
-
石橋 隆幸
長岡技術科学大学工学部
-
佐藤 勝昭
東京農工大学工
-
佐藤 勝昭
東京農工大学
-
Sato K
Faculty Of Engineering Fukui University Of Technology
-
石橋 隆幸
東京農工大学
-
石橋 隆幸
長岡技術科学大学 工学部
-
Satoh K
Faculty Of Engineering Fukui University Of Technology
-
石橋 隆幸
東京農工大学大学院工学教育部
-
Sato K
Department Of Physics Faculty Of Science Toyama University
-
Sato Kiyoo
College Of Liberal Arts Toyama University
-
Satoh K
Univ. Electro‐communications Tokyo
-
Satoh K
Mitsui Engineering Ship Building Co. Ltd. Tamano Jpn
-
佐藤 勝昭
東京農工大
-
Sato K.
Department Of Applied Physics Tokyo University Of Agriculture And Technology
-
SATO Kazutaka
Physics Laboratory,Aichi Prefectural Junior College of Nursing
-
石橋 隆幸
長岡技術科学大学、物質・材料系
-
石橋 隆幸
東京農工大
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