多層基板型磁界プローブの諸特性と校正
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概要
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PCB及びLSIの近傍磁界を計測するために開発した、シールディドループ構造を持つ多層基板型磁界プローブ(ループサイズ:0.2mm×8.4mm)の諸特性を計測した。本プローブの出力の振幅及び位相は1GHz以下の帯域で直線特性で動作していることがわかった。また、PCB配線を対象とした場合の計測距離や設置角度との関係を調べ、計測誤差について明らかにした。また、TEMセル及びマイクロストリップラインを標準磁界発生源とした場合の複素校正係数はよく一致した。TEMセルを用いて評価した結果、試作ロットごとの測定の誤差を含む校正係数のばらつきは1.0dB以下であることがわかった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-01-20
著者
-
荒井 賢一
東北大学電気通信研究所
-
山口 正洋
東北大学電気通信研究所
-
玉置 尚哉
日本電気(株)
-
増田 則夫
日本電気(株)
-
玉置 尚哉
日本電気株式会社生産技術研究所実装設計テクノロジーグループ
-
増田 則夫
日本電気株式会社生産技術研究所実装設計テクノロジーグループ
-
遠矢 弘和
日本電気株式会社
-
遠矢 弘和
日本電気(株)生産技術研究所
-
山口 正洋
東大 大学院医学系研究科
-
石坂 和吉
日本電気真空硝子(株)
-
遠矢 弘和
日本電気(株) Necラボラトリーズ 生産技術研究所
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