シリコン単結晶中のD欠陥評価法の開発と結晶育成条件との対比への応用 : シンポジウムI
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概要
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- 日本結晶成長学会の論文
- 1991-07-25
著者
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布施川 泉
信越半導体(株)白河工場
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山岸 浩利
(株)スーパーシリコン研究所
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山岸 浩利
信越半導体(株)
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布施川 泉
信越半導体(株)半導体磯部研究所
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布施川 泉
信越半導体
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藤巻 延喜
信越半導体(株)半導体研究所
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