14pYB-6 Si 薄膜の電子状態と輸送特性 : 固体から sub-nm 厚膜まで(量子ドット・量子閉じ込め : 実験, 領域 4)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2004-08-25

著者

• 山内 淳

  慶大理工

• 山内 淳

  東芝研究開発センター

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