サーモリフレクタンス法を用いたAlq_3およびα-NPD薄膜の熱物性に関する研究(2)
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概要
- 論文の詳細を見る
- 2010-11-17
著者
-
馬場 哲也
産総研
-
八木 貴志
産総研
-
竹歳 尚之
産総研
-
岡 伸人
青学大理工
-
重里 有三
青学大理工
-
馬場 哲也
産業技術研 計測標準研究部門
-
竹歳 尚之
(独)産業技術総合研究所 計測標準研究部門
-
加藤 一樹
青学大理工
-
伊藤 宜弘
パナソニック電工
-
重里 有三
青山学院大学大学院理工学研究科
-
岡 伸人
東大
-
Shigesato Yuzo
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo
-
Shigesato Yuzo
College Of Science And Engineering Aoyamagakuin University
-
Baba Tetsuya
Department Of Pure And Applid Sciences University Of Tokyo:national Research Laboratory Of Metrology
-
Shigesato Yuzo
Department Of Chemistry Aoyama Gakuin University
-
OKA Nobuto
Graduate School of Science and Engineering, Aoyama Gakuin University
-
馬場 哲也
産業技術総合研究所計測標準部
-
馬場 哲也
産業技術総合研究所 計測標準研究部門
-
岡 伸人
青山学院大学大学院理工学研究科
-
Baba Tetsuya
National Metrology Institute of Japan (AIST), Tsukuba Central 3, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8563, Japan
-
馬場 哲也
産業技術総合研究所
-
Oka Nobuto
Graduate School of Frontier Sciences, The University of Tokyo
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