CMOSプロセスにおける5V系パワーデバイスのホットキャリア耐量の改善
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概要
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- 2005-10-27
著者
-
中川 明夫
東芝 セミコンダクター社
-
中川 明夫
(株)東芝
-
中村 和敏
株式会社 東芝
-
松下 憲一
株式会社 東芝
-
仲 敏行
株式会社 東芝
-
安原 紀夫
株式会社 東芝
-
遠藤 幸一
株式会社 東芝
-
鈴木 史人
株式会社 東芝
-
中川 明夫
株式会社 東芝
-
末代 知子
株式会社 東芝
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安原 紀夫
(株)東芝
-
中村 和敏
(株)東芝
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仲 敏行
(株)東芝
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松下 憲一
(株)東芝
-
末代 知子
(株)東芝
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