Ga ・ 1次イオン TOF-SIMS による有機化合物の存在確認
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 日本表面科学会の論文
- 2001-10-10
著者
-
星 孝弘
アルバック・ファイ株式会社
-
広川 吉之助
東北大学金属材料研究所
-
星 孝弘
アルバック・ファイ(株)
-
広川 吉之助
アルバック・ファイ株式会社
-
高橋 元幾
アルバック・ファイ株式会社
-
広川 吉之助
東北大
-
廣川 吉之助
アルバックファイ
-
広川 吉之助
アルバック・ファイ
関連論文
- TOF-SIMSによるUV照射したフォトレジスト表面の化学構造変化の評価
- TOF-SIMSによるバイオセンサ基板上のタンパク質分布の評価
- バイオ関連評価におけるTOF-SIMSの可能性
- 最適化された低エネルギー一次イオン照射下におけるTOF-SIMSサンプリング深さの極浅化
- オージェ電子分光法定量分析における装置補正因子
- 酸化物試料の X 線光電子分光法による定量分析
- イオンスパッタリングによる酸化物の X 線光電子ペクトルの変化
- 深さ方向分析におけるイオンスパッタリング収率の測定
- オージェ電子分光法による状態分析のためのスペクトル微細構造観察
- 化学変化を原子レベルでみる(原子をみる)
- 表面積分析技術の環境汚染測定への応用
- 金属表面分析法の発展とその応用-2-2次イオン質量分析法
- 水溶液よりのセレン及びテルルの金属析出分離
- 水溶液よりのパラジウム及び白金の金属析出分離
- SIMSによる最近の分析と顕微法
- スパーク発光分光分析法による鋼中窒素の定量
- TOF-SIMS法の最近の進歩
- TOF-SIMS : サブミクロン領域からの分子構造情報を取得
- 固体表面の分析法
- 硝酸塩,硫酸塩などからのGa・1次イオンTOF-SIMSフラグメントパターン
- Ga ・ 1次イオン TOF-SIMS による有機化合物の存在確認
- 最新の表面分析技術
- オージェ電子分光法を用いた表面汚染粒子分析とTOF-SIMSによる表面有機汚染評価
- 二,三の合成高分子化合物のTOF-SIMSフラグメントパターンの推定
- 金属塩化物ならびに酸化物からのGa・1次イオンTOF-SIMSフラグメントパターンの推定
- スタティックSIMS : TOF-SIMSを中心として
- 極表層におけるホウ素のSIMS定量分析
- TOF-SIMSによりポリメタクリル酸メチル(PMMA)表面から得られた二次イオン強度の解析
- 表面分析技術 6. 二次イオン質量分析法(SIMS)
- 鋼中のタングステンのグロー放電発光分光分析(無機材料分析のためのスペクトロメトリー)
- 金属の表面分析の現状と課題 (2)(共同研究会鉄鋼分析部会表面分析小委員会)
- 金属の表面分析の現状と課題 (1)(共同研究会鉄鋼分析部会表面分析小委員会)
- TOF-SIMS, Q-SIMS, XPSによるイオン照射に伴う有機材料表面の状態変化の解析
- 炭素炉加熱-前方共鳴散乱分光法による金属中の銀,銅,鉛,カドミウムの定量(無機材料分析のためのスペクトロメトリー)
- 鉄鋼中非金属元素分析の現状と課題(平成 5 年第 126 回秋季講演大会, 討論会まとめ)
- V. 鉄鋼における表面分析の現状と問題点(第 111 回講演大会討論会報告)
- 前方共鳴散乱分光法の励起源としてのグリムグローランプ
- コバルト酸化物中の金属コバルト,コバルト(II)及びコバルト(III)の分別定量
- 金属銅,酸化銅(I),酸化銅(II)の分別定量法
- 試料中のモリブデンを利用したモリブデン中のリンとヒ素の吸光光度定量
- 金属材料の化学, 岡田雅年編, 1992 年 2 月, 日刊工業新聞社発行, A5 判, 275 頁, 4,000 円
- Ga^+一次イオンTOF-SIMSによるSi酸化膜厚評価の可能性
- 含水酸化物表面からのGa^+1次イオン TOF-SIMS フラグメント パターン観察
- Ga^+1次イオン TOF-SIMS における有機化合物の開裂推定 : 多原子分子における結合解離エネルギーに着目して
- 無機化合物のGa^+1次イオンTOF-SIMSフラグメント・パターン推定への同位体存在比導入の試み
- 無機化合物におけるGa^+1次イオンTOF-SIMSフラグメント・パターンの規則性
- 近赤外光とX線の間
- 表面・界面分析と材料
- 微量分析法の限界
- 固体試料直接加熱-黒鉛炉原子吸光法による極微小量の鉄鋼,銅及び銅合金中の微量鉛の定量
- グリムランプによるグロー放電を励起源とする溶液中の希土類元素の発光分光分析
- 全反射現象を利用した蛍光X線表面分析法
- 斜入射・斜出射-蛍光X線分析法による表面反応の評価
- STM装置を用いたX線励起電流の測定
- 高温炉原子吸光法の灰化段階における化合物と合金相の二次イオン質量分析による検討
- 高温炉原子吸光法における原子蒸気温度の異常な上昇について
- 高温炉原子吸光分析におけるセレンの原子蒸気温度とマトリックスモディファイアとの関係
- オージェ電子分光装置によるアルミニウム及びマグネシウム基板上の薄膜からのX線光電子測定
- 鉄鋼の原子スペクトル分析
- 金属中微量元素の分析は重要であろうか
- グロー放電発光分光法による無電解ニッケルめっき皮膜の深さ方向分析
- -理工系-卒業論文作成の手引き(アグネ叢書 8), 太田恵造著, 1993 年 4 月, (株)アグネ技術センター発行, A5 判, 155 頁, 1,854 円
- 回折結晶学と材料科学 : 仙台スクール 40 年の軌跡, 東北大学金属材料研究所小川研究室成果刊行会編, 1993 年 3 月, (株)アグネ技術センター発行, B5 判, 310 頁, 7,210 円
- 鉄鋼材料の表面・界面分析
- 標準試料・標準物質
- 高温超伝導酸化物Bi_2Sr_2Ca_Cu_nO_y(n=1,2)間に存在する不純物のX線光電子分光測定(表面・界面・薄膜と分析化学)
- X線光電子分光並びに薄膜X線回折による窒化チタンコーティング鋼の界面近傍分析(表面・界面・薄膜と分析化学)
- 鉄鋼表面分析(表面分析)(分析評価・解析)
- 複陰極型グロー放電管の開発とその鉄鋼分析への応用(機器分析)(分析評価・解析)
- 特集号「分析評価・解析」の発刊にあたって(分析評価・解析)
- オージェ電子分光法による定量測定の際の装置関数の見積もりとスペクトル線の選択
- オージェ電子分光法における頻用相対感度係数のマトリックス効果とその補正の検討(無機材料分析のためのスペクトロメトリー)
- XPSにおける粉末固定法とその評価
- 討 32 鉄-酸素系における鉄の酸化数による XPS, AES, EELS スペクトルの変化(V 鉄鋼における表面分析の現状と問題点, 第 111 回 講演大会討論会講演概要)
- X線光電子分光法による石炭及び石炭フライアッシュの表面分析(石炭利用と分析化学)
- X線光母子分光法の強慶測定における装置の分光器関数について
- X線光電子分光法による定量的分析の応用例(II)
- X線光電子分光法による定量的分析の応用例
- オ-ジェ電子分光分析法
- 新しい分光法とその応用第4講電子分光法の応用
- グロー放電-スパッタリング発光を光源とする合金の発光分光分析
- 低電圧衝撃放電による鉄鋼中の炭素の発光分光分析 : 真空紫外領域以外(2,000Å以上)に存在する炭素スペクトル線使用の可能性について
- 特殊機器分析法の鉄鋼分析への適用
- ケイ光X線法による鉄鉱石中の鉄の定量 : 溶液法ならびに溶融法による一,二の検討
- 鉄鋼中の炭素,ヒ素およびスズの定量 : 高真空分光器による分光分析(第1報)
- 簡単なレーザーマイクロプローブラマン分光系の試作
- 鋼中酸化アルミニウムの存在形について(鉄鋼分析)
- 226 鋼中酸化アルミニウムの存在形について(分析, 加工・性質, 日本鉄鋼協会 第 85 回(春季)講演大会)
- 電子分光法--オ-ジェ電子および電子エネルギ-損失分光法による鉄合金粒界破断面の結合状態 (化学における構造決定)
- グリムグロー放電発光現象の基礎的考察
- 誘導結合プラズマ発光分析法によるニオブ,チタン,ジルコニウムを構成成分とする材料の分析 : ニオプ,チタン及びジルコニウムの定量
- 印加電圧変調法によるグロー放電発光スペクトルの高感度測定 : 低合金鋼中の微量添加元素の定量分析への応用
- 6. 鉄を中心とした物質の表面分析用標準試料群の調製とその応用性(鋼材の表面物性とその評価技術 : (II) 分析技術)
- 金属酸化物および水酸化物の標準XPSスペクトルを得るための試料処理
- 鉄鋼の表面分析の最近の進歩
- グロ-放電(グリムランプ)による二,三の2元合金の発光分光分析
- 新しい手法による状態分析(鉄鋼分析)
- 鉄鋼機器分析法の展望 : 機器分析の現状と将来
- グリム放電による鋼中アルミニウムおよび硫黄の分光分析
- ジチゾン抽出法について