星 孝弘 | アルバック・ファイ株式会社
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概要
関連著者
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星 孝弘
アルバック・ファイ株式会社
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星 孝弘
アルバック・ファイ(株)
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工藤 正博
成蹊大学理工学部
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工藤 正博
成蹊大学工学部物理情報工学科
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広川 吉之助
東北大学金属材料研究所
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広川 吉之助
アルバック・ファイ株式会社
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広川 吉之助
東北大
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廣川 吉之助
アルバックファイ
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広川 吉之助
アルバック・ファイ
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大岩 烈
アルバック・ファイ株式会社
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一戸 裕司
成蹊大学工学部計測数理工学科
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高橋 元幾
アルバック・ファイ株式会社
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大岩 烈
アルバック・ファイ(株)
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戸津 美矢子
アルバック・ファイ株式会社
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諸橋 智彦
アルバック-ファイ株式会社
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遠藤 一央
金沢大学理学部
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諸橋 智彦
アルバック・ファイ株式会社
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李 展平
アルバック・ファイ株式会社
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青柳 里果
島根大学生物資源学部
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田中 彰博
アルバック・ファイ(株)
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青柳 里果
成蹊大学工学部物理情報工学科
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大岩 佑子
成蹊大学工学部物理情報工学科
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齋藤 玲子
(株)東芝生産技術センター
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遠藤 一央
金沢大学理学部化学科
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曽我 雅康
神奈川県産業技術総合研究所
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長沼 康弘
神奈川県産業技術総合研究所
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工藤 正博
成蹊大学工学部計測数理工学科
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牧野 伸顕
(株)東芝生産技術研究所
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工藤 正博
成蹊大工
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田中 彰博
アルバック・ファイ株式会社
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諸橋 智彦
アルバック・ファイ(株)分析室
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西原 孝義
成蹊大学工学部
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遠藤 一央
三菱製紙(株)総合研究所
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牧野 伸顕
(株)東芝生産技術センター
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中村 朋美
アルバック・ファイ(株)
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富塚 仁
アルバック・ファイ(株)
-
田中 彰博
アルバック・ファイ (株)
著作論文
- TOF-SIMSによるUV照射したフォトレジスト表面の化学構造変化の評価
- TOF-SIMSによるバイオセンサ基板上のタンパク質分布の評価
- 表面積分析技術の環境汚染測定への応用
- SIMSによる最近の分析と顕微法
- TOF-SIMS法の最近の進歩
- TOF-SIMS : サブミクロン領域からの分子構造情報を取得
- 固体表面の分析法
- 硝酸塩,硫酸塩などからのGa・1次イオンTOF-SIMSフラグメントパターン
- Ga ・ 1次イオン TOF-SIMS による有機化合物の存在確認
- 最新の表面分析技術
- オージェ電子分光法を用いた表面汚染粒子分析とTOF-SIMSによる表面有機汚染評価
- 二,三の合成高分子化合物のTOF-SIMSフラグメントパターンの推定
- 金属塩化物ならびに酸化物からのGa・1次イオンTOF-SIMSフラグメントパターンの推定
- スタティックSIMS : TOF-SIMSを中心として
- 極表層におけるホウ素のSIMS定量分析
- TOF-SIMSによりポリメタクリル酸メチル(PMMA)表面から得られた二次イオン強度の解析
- 表面分析技術 6. 二次イオン質量分析法(SIMS)
- TOF-SIMS, Q-SIMS, XPSによるイオン照射に伴う有機材料表面の状態変化の解析
- XPSにおける粉末固定法とその評価
- オ-ジェ電子分光分析法