TOF-SIMSによりポリメタクリル酸メチル(PMMA)表面から得られた二次イオン強度の解析
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概要
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- 日本表面科学会の論文
- 1998-07-10
著者
-
工藤 正博
成蹊大学理工学部
-
工藤 正博
成蹊大学工学部物理情報工学科
-
星 孝弘
アルバック・ファイ株式会社
-
遠藤 一央
金沢大学理学部化学科
-
遠藤 一央
金沢大学理学部
-
曽我 雅康
神奈川県産業技術総合研究所
-
長沼 康弘
神奈川県産業技術総合研究所
-
星 孝弘
アルバック・ファイ(株)
-
一戸 裕司
成蹊大学工学部計測数理工学科
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