<新しい研究装置設備の紹介> 機能性材料表面構造解析装置の特性評価とバイオ材料解析への応用
スポンサーリンク
概要
著者
-
工藤 正博
成蹊大学理工学部
-
青柳 里果
島根大学生物資源学部
-
工藤 正博
成蹊大学工学部物理情報工学科
-
青柳 里果
成蹊大学工学部物理情報工学科
-
大岩 佑子
成蹊大学工学部物理情報工学科
-
大西 康行
成蹊大学工学研究科
-
工藤 正博
成蹊大学工学部計測数理工学科
関連論文
- C60クラスター一次イオンを搭載した飛行時間型二次イオン質量分析装置による固定化リゾチウムの最表面構造評価
- TOF-SIMSによるUV照射したフォトレジスト表面の化学構造変化の評価
- ガラス基板上のタンパク質分布に関するTOF-SIMSイメージング評価法
- Cu-CMPプロセスにおける有機酸と反応したCu膜表面の状態解析
- TOF-SIMSによるバイオセンサ基板上のタンパク質分布の評価
- 最適入射角度の低速酸素イオンを用いたSIMS によるボロンのゲート酸化膜突き抜け現象の解析
- 機能性材料表面構造解析装置の特性評価とバイオ材料解析への応用
- 試料冷却機構を備えたTOF-SIMS装置による揮発性物質の高感度測定法の研究
- タンパク質のin situ測定に適した蛍光免疫センサの開発
- バイオ関連評価におけるTOF-SIMSの可能性
- 最適化された低エネルギー一次イオン照射下におけるTOF-SIMSサンプリング深さの極浅化
- フロートプロセスにおけるガラスへの錫拡散機構
- フロートガラスにおける表面組成変化の機構と機械的特性への影響
- 第29回表面科学基礎講座-表面・界面分析の基礎と応用-
- スタティックSIMS法の基礎と応用
- ガラス表面のキャラクタリゼーション(II) -ガラス表面にコーティングした薄膜の特性支配因子の解析-
- ガラス表面のキャラクタリゼーション(I) -ガラス表面における諸現象の発現機構-
- やさしいニューガラス講座 ガラス表面のコンタミネーションコントロール
- ガラスにおける表面特性発現メカニズムとその制御に関するキャラクタリゼーション
- フロートガラスの吸着性及び化学修飾性支配因子
- 試料冷却法を用いたSIMS測定におけるSi酸化膜中Naの挙動
- 講演大会特集号に寄せて
- 1P340 TOF-SIMSによる電極固定化リゾチウムの表面構造測定(計測,ポスター発表,第45回日本生物物理学会年会)
- 1P339 飛行時間型二次イオン質量分析法によるタンパク質-分子層の構造評価法の開発(バイオエンジニアリング、計測,口頭発表,第45回日本生物物理学会年会)
- Auクラスター一次イオン源を用いたTOF-SIMS測定における二次イオン強度増大効果
- C60スパッタイオン銃システム
- XPSに用いられる走査型X線源のビーム形状とエネルギー分布シミュレーション
- X線光電子分光法用走査型X線源の球面収差とビーム形状シミュレーション
- TOF-SIMSを用いたポリマーの化学構造解析
- SIMSによる最近の分析と顕微法
- ガラスの表面特性とキャラクタリゼーション (特集 分析技術のガラスへの応用)
- 極表層におけるホウ素のSIMS定量分析
- TOF-SIMSによりポリメタクリル酸メチル(PMMA)表面から得られた二次イオン強度の解析
- TOF-SIMS, Q-SIMS, XPSによるイオン照射に伴う有機材料表面の状態変化の解析
- オージェ電子分光法およびファクターアナリシスを用いたCeの化学状態別定量分析
- イオン照射を受けたPb-Sn, Pb-Sn-Ag合金表面のAESおよびSIMSによる解析
- TOF-SIMS法による固体表面分析(1)--基本技術と特徴的な測定例
- TOF-SIMSを用いたバイオセンサ基板上のタンパク質分布評価
- 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
- いつのまにか科学者のはしくれに
- バイオデバイスの飛行時間型二次イオン質量分析イメージング
- HFウエットエッチングを併用したSiO_2薄膜中NaのSIMS分析
- 飛行時間型二次イオン質量分析法の生命科学への応用
- TOF-SIMS による有機物分析
- G-SIMSによる高分子試料解析の基礎的検討 (第30回表面科学学術講演会特集号(1))
- 生体試料の化学分布情報解析法の開発
- G-SIMSによる高分子試料解析の基礎的検討
- 飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)データ解析へのケモメトリクスの応用
- LED光源を用いた植物の二次代謝物質合成制御光スペクトルの探究