G-SIMSによる高分子試料解析の基礎的検討 (第30回表面科学学術講演会特集号(1))
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- C60クラスター一次イオンを搭載した飛行時間型二次イオン質量分析装置による固定化リゾチウムの最表面構造評価
- ガラス基板上のタンパク質分布に関するTOF-SIMSイメージング評価法
- Cu-CMPプロセスにおける有機酸と反応したCu膜表面の状態解析
- TOF-SIMSによるバイオセンサ基板上のタンパク質分布の評価
- 最適入射角度の低速酸素イオンを用いたSIMS によるボロンのゲート酸化膜突き抜け現象の解析
- 機能性材料表面構造解析装置の特性評価とバイオ材料解析への応用
- タンパク質のin situ測定に適した蛍光免疫センサの開発
- 1P340 TOF-SIMSによる電極固定化リゾチウムの表面構造測定(計測,ポスター発表,第45回日本生物物理学会年会)
- 1P339 飛行時間型二次イオン質量分析法によるタンパク質-分子層の構造評価法の開発(バイオエンジニアリング、計測,口頭発表,第45回日本生物物理学会年会)
- Auクラスター一次イオン源を用いたTOF-SIMS測定における二次イオン強度増大効果
- C60スパッタイオン銃システム
- TOF-SIMSを用いたバイオセンサ基板上のタンパク質分布評価
- 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
- いつのまにか科学者のはしくれに
- バイオデバイスの飛行時間型二次イオン質量分析イメージング
- 飛行時間型二次イオン質量分析法の生命科学への応用
- G-SIMSによる高分子試料解析の基礎的検討 (第30回表面科学学術講演会特集号(1))
- 生体試料の化学分布情報解析法の開発
- G-SIMSによる高分子試料解析の基礎的検討
- 飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)データ解析へのケモメトリクスの応用
- LED光源を用いた植物の二次代謝物質合成制御光スペクトルの探究