飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)データ解析へのケモメトリクスの応用
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Analysis of time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) data is crucial for interpreting extremely intricate TOF-SIMS data of complex samples such as biological tissues and intelligent devices. Combination of imaging analysis and spectrum analysis is powerful to extract unknown important components and to identify specific materials. In this article, principles of three important data analysis techniques for TOF-SIMS data, principal component analysis (PCA), multivariate curve resolution (MCR) and G-SIMS, are briefly introduced. And, examples of their applications to TOF-SIMS data are also shown and discussed.
- 2012-04-20
著者
関連論文
- C60クラスター一次イオンを搭載した飛行時間型二次イオン質量分析装置による固定化リゾチウムの最表面構造評価
- ガラス基板上のタンパク質分布に関するTOF-SIMSイメージング評価法
- Cu-CMPプロセスにおける有機酸と反応したCu膜表面の状態解析
- TOF-SIMSによるバイオセンサ基板上のタンパク質分布の評価
- 最適入射角度の低速酸素イオンを用いたSIMS によるボロンのゲート酸化膜突き抜け現象の解析
- 機能性材料表面構造解析装置の特性評価とバイオ材料解析への応用
- タンパク質のin situ測定に適した蛍光免疫センサの開発
- 1P340 TOF-SIMSによる電極固定化リゾチウムの表面構造測定(計測,ポスター発表,第45回日本生物物理学会年会)
- 1P339 飛行時間型二次イオン質量分析法によるタンパク質-分子層の構造評価法の開発(バイオエンジニアリング、計測,口頭発表,第45回日本生物物理学会年会)
- Auクラスター一次イオン源を用いたTOF-SIMS測定における二次イオン強度増大効果
- C60スパッタイオン銃システム
- TOF-SIMSを用いたバイオセンサ基板上のタンパク質分布評価
- 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
- いつのまにか科学者のはしくれに
- バイオデバイスの飛行時間型二次イオン質量分析イメージング
- 1P341 飛行時間型二次イオン質量分析法によるタンパク質測定時の表面状態の基礎的検討(計測,ポスター発表,第45回日本生物物理学会年会)
- 1P303 連結した連続攪拌反応装置による振動化学現象の測定(数理生物学、非平衡・生体リズム,ポスター発表,第45回日本生物物理学会年会)
- 飛行時間型二次イオン質量分析法の生命科学への応用
- 26pRD-4 固定化タンパク質表面における電子刺激脱離の発光分光(26pRD 融合セッション(原子分子・放射線)(多原子分子標的),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- G-SIMSによる高分子試料解析の基礎的検討 (第30回表面科学学術講演会特集号(1))
- 生体試料の化学分布情報解析法の開発
- G-SIMSによる高分子試料解析の基礎的検討
- TOF-SIMSによる生体高分子の可視化 (特集 材料分析・観測技術の勘どころ)
- 化学センサ2006 飛行時間型二次イオン質量分析法を用いたバイオ材料の表面センシング
- 22aEE-7 電子線照射タンパク質表面からの脱離粒子に対する発光分光(22aEE 融合セッション(原子分子・放射線)(分子・生体),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)データ解析へのケモメトリクスの応用
- LED光源を用いた植物の二次代謝物質合成制御光スペクトルの探究