工藤 正博 | 成蹊大学工学部計測数理工学科
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概要
関連著者
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工藤 正博
成蹊大学理工学部
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工藤 正博
成蹊大学工学部計測数理工学科
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工藤 正博
成蹊大学工学部物理情報工学科
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青柳 里果
島根大学生物資源学部
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加藤 信彦
成蹊大学理工学部
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青柳 里果
成蹊大学工学部物理情報工学科
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林 泰夫
旭硝子(株)中央研究所
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大岩 佑子
成蹊大学工学部物理情報工学科
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戸津 美矢子
アルバック・ファイ株式会社
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星 孝弘
アルバック・ファイ(株)
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松本 潔
旭硝子 (株) 中央研究所
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青柳 里果
島根大・生物資源
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加藤 信彦
成蹊大・理工
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工藤 正博
成蹊大・理工
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三好 秀龍
成蹊大学工学研究科
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斎藤 玲子
東芝(株)生産技術センター
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星 孝弘
アルバック・ファイ株式会社
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川島 義也
NEC エレクトロニクス(株)
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小山 晋
NEC エレクトロニクス(株)
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安藤 公一
NEC エレクトロニクス(株)
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井手 隆
NEC エレクトロニクス(株)
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大西 康行
成蹊大学工学研究科
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梅島 真也
成蹊大学工学部研究科
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林 泰夫
旭硝子 (株) 中央研究所
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林 泰夫
旭硝子株式会社中央研究所
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齋藤 玲子
(株)東芝生産技術センター
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岡田 慶悟
島根大・生物資源
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Boireau Wilfrid
FEMTO-ST, Proteomic Platform
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Rouleau Alain
FEMTO-ST, Proteomic Platform
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土肥 誠
島根大・生物資源
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相本 健一
成蹊大学理工学部物質生命理工学科
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飯田 典子
アルバック・ファイ(株)
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山本 公
アルバック・ファイ(株)
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安藤 公一
日本電気(株)
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Boireau Wilfrid
Femto-st Proteomic Platform
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Rouleau Alain
Femto-st Proteomic Platform
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三原 一郎
株式会社クラレくらしき研究センター
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Elie-caille Ce'line
Femto-st Proteomic Platform
著作論文
- C60クラスター一次イオンを搭載した飛行時間型二次イオン質量分析装置による固定化リゾチウムの最表面構造評価
- ガラス基板上のタンパク質分布に関するTOF-SIMSイメージング評価法
- Cu-CMPプロセスにおける有機酸と反応したCu膜表面の状態解析
- TOF-SIMSによるバイオセンサ基板上のタンパク質分布の評価
- 最適入射角度の低速酸素イオンを用いたSIMS によるボロンのゲート酸化膜突き抜け現象の解析
- 機能性材料表面構造解析装置の特性評価とバイオ材料解析への応用
- 試料冷却機構を備えたTOF-SIMS装置による揮発性物質の高感度測定法の研究
- タンパク質のin situ測定に適した蛍光免疫センサの開発
- バイオ関連評価におけるTOF-SIMSの可能性
- 最適化された低エネルギー一次イオン照射下におけるTOF-SIMSサンプリング深さの極浅化
- フロートプロセスにおけるガラスへの錫拡散機構
- フロートガラスにおける表面組成変化の機構と機械的特性への影響
- 第29回表面科学基礎講座-表面・界面分析の基礎と応用-
- スタティックSIMS法の基礎と応用
- ガラス表面のキャラクタリゼーション(II) -ガラス表面にコーティングした薄膜の特性支配因子の解析-
- ガラス表面のキャラクタリゼーション(I) -ガラス表面における諸現象の発現機構-
- ガラスにおける表面特性発現メカニズムとその制御に関するキャラクタリゼーション
- 1P340 TOF-SIMSによる電極固定化リゾチウムの表面構造測定(計測,ポスター発表,第45回日本生物物理学会年会)
- 1P339 飛行時間型二次イオン質量分析法によるタンパク質-分子層の構造評価法の開発(バイオエンジニアリング、計測,口頭発表,第45回日本生物物理学会年会)
- Auクラスター一次イオン源を用いたTOF-SIMS測定における二次イオン強度増大効果
- C60スパッタイオン銃システム
- G-SIMSによる高分子試料解析の基礎的検討