TOF-SIMS, Q-SIMS, XPSによるイオン照射に伴う有機材料表面の状態変化の解析
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概要
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- 日本表面科学会の論文
- 1997-06-10
著者
-
工藤 正博
成蹊大学理工学部
-
工藤 正博
成蹊大学工学部物理情報工学科
-
星 孝弘
アルバック・ファイ株式会社
-
遠藤 一央
金沢大学理学部
-
星 孝弘
アルバック・ファイ(株)
-
一戸 裕司
成蹊大学工学部計測数理工学科
-
西原 孝義
成蹊大学工学部
-
遠藤 一央
三菱製紙(株)総合研究所
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