一戸 裕司 | 成蹊大学工学部計測数理工学科

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概要

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• 同名の論文著者
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関連著者

• 工藤 正博

  成蹊大学理工学部

• 工藤 正博

  成蹊大学工学部物理情報工学科

• 星 孝弘

  アルバック・ファイ株式会社

• 星 孝弘

  アルバック・ファイ(株)

• 一戸 裕司

  成蹊大学工学部計測数理工学科

• 遠藤 一央

  金沢大学理学部

• 齋藤 玲子

  (株)東芝生産技術センター

• 遠藤 一央

  金沢大学理学部化学科

• 曽我 雅康

  神奈川県産業技術総合研究所

• 長沼 康弘

  神奈川県産業技術総合研究所

• 牧野 伸顕

  (株)東芝生産技術研究所

• 西原 孝義

  成蹊大学工学部

• 遠藤 一央

  三菱製紙(株)総合研究所

• 牧野 伸顕

  (株)東芝生産技術センター

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著作論文

• TOF-SIMSによるUV照射したフォトレジスト表面の化学構造変化の評価
• TOF-SIMSによりポリメタクリル酸メチル(PMMA)表面から得られた二次イオン強度の解析
• TOF-SIMS, Q-SIMS, XPSによるイオン照射に伴う有機材料表面の状態変化の解析

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