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(株)日立製作所半導体グループ | 論文
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- ディープサブミクロンCMOSFET設計における高温RTAのインパクト(ディープサブミクロンMOSトランジスタ技術小特集)
- 超微細CMOSFET設計における高温RTAのインパクト
- デターミニスティックBISTによる高効率高品質テストの実現
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- 近傍パターン群発生によるデターミニスティックBIST方式
- 多種クロックをもつ論理回路の決定性組込みテスト
- 市場不良率と総合検出率の関係に関する考察
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- International Test Conference 1999 (ITC '99)
- BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバヘッドの低減 (テストと設計検証論文特集)
- BIST向け検査点挿入方式のFF共用に関する考察
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- BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバーヘッドの低減
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- BIST向け検査点挿入位置決定方法の高速化
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