スポンサーリンク
(株)日立製作所半導体グループ | 論文
- 経路並列による順序回路テスト生成の並列化
- 実数値シミュレーションに基づく順序回路用並列テスト生成システム DESCARTES の故障並列に関する評価
- 並列学習操作による冗長故障判定手法
- 並列学習操作による冗長故障判定手法
- 実数値シミュレーションを利用した順序回路テスト生成
- 高速論理LSI用遅延テスト生成方法
- 入力遷移制限付2パターンテストによる組合せ回路の遅延テストについて
- 3)HDベースバンド1チャンネル記録のための信号処理方式の検討(画像情報記録研究会)
- HDベースバンド1チャンネル記録のための信号処理方式の検討
- ED2000-130 / SDM2000-112 / ICD-2000-66 DRAMリフレッシュエンジニアリングモデル
- ED2000-130 / SDM2000-112 / ICD2000-66 DRAMリフレッシュエンジニアリングモデル
- ED2000-130 / SDM2000-112 / ICD2000-66 DRAMリフレッシュエンジニアリングモデル
- Nomadic Computing用低消費電力RISCプロセッサ : 日立SH3の低消費電力化技術
- パネル討論「ポストVLIW時代のマイクロプロセッサ像」
- 2000 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2000)
- プロセス・デバイス統合シミュレーションシステム : VFLの開発とデバイス設計への適用
- Hydrodynamic方程式を用いた高速イオン打ち込みシミュレーション方法の提案
- 擬似ランダム論理BISTにおけるテストパターン品質の評価(フォールトトレランス)
- LSI検査用の角錐状接触端子を形成した薄膜プローブの開発
- LSI検査用の角錐状接触端子を形成した薄膜プローブの開発