東 悠介 | 株式会社東芝

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概要

• 同名の論文著者
• 株式会社東芝の論文著者

関連著者

• 大黒 達也

  東芝セミコンダクター社:広島大学

• 百々 信幸

  (株)東芝 研究開発センター デバイスプロセス開発センター 高性能CMOSデバイス技術開発部

• 東 悠介

  株式会社東芝

• 大黒 達也

  (株)東芝セミコンダクタ社SoC研究開発センター

• 百瀬 寿代

  (株)東芝セミコンダクタ社SoC研究開発センター

• 大黒 達也

  東芝セミコンダクター社

• 松澤 一也

  (株)東芝 ULSI研究所

• 東 悠介

  (株)東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー

• 大黒 達也

  (株)東芝 研究開発センター デバイスプロセス開発センター 高性能CMOSデバイス技術開発部

• 百瀬 寿代

  (株)東芝 研究開発センター デバイスプロセス開発センター 高性能CMOSデバイス技術開発部

• 東 悠介

  (株)東芝 研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー

• 松澤 一也

  東芝LSI基盤技術ラボラトリー

• 松澤 一也

  (株)東芝 研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー

• 百瀬 寿代

  (株)東芝研究開発センターulsi研究所

• 百々 信幸

  (株)東芝研究開発センターデバイスプロセス開発センター高性能CMOSデバイス技術開発部

• 百々 信幸

  株式会社東芝

• 山下 浩史

  株式会社東芝

• 佐々木 広器

  株式会社東芝

• 吉田 毅

  株式会社東芝

• 大黒 達也

  株式会社東芝

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著作論文

• 高画質CMOSイメージセンサの実現に有効な3次元デバイスシミュレータ
• デバイスシミュレーションによるランダムテレグラフノイズの本質的理解(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• デバイスシミュレーションによるランダムテレグラフノイズの本質的理解
• 転送ゲート負バイアス動作における黒沈み不良の解析(イメージセンサ,カメラ信号処理,画像評価関連技術,及び2013IISWとVLSIシンポジウムからの発表報告)

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